Summary
Five commercial steels ranging from the martensitic stainless steel containing 12% chromium to the Superferrite containing 29% chromium, 4% molybdenum and 2% nickel have been studied by XPS. Armco iron and pure chromium (99.99%) were included as references. The formation of the passive films (or corrosion) occurred in deoxygenated 0.1 M NaCl solution (pH 5.6), from which the samples were transferred directly to the XPS chamber under controlled atmosphere (Ar). Concentration profiles (at%) of the alloy constituents in their oxidized and metallic states have been determined separately from the measured XPS depth profiles. The passive films have the following structure: there is a depletion of Cr in the inner region, followed by an enrichment (concentration maximum) in the central region of the films. The height of this maximum increases, and its position shifts towards the surface with increasing chromium content in the alloy. The outermost monolayers are rich in water and hydroxyl groups. The thickness and other significant properties of the films change drastically at the critical chromium concentration of about 12%. This behaviour is practically independent of the other components (Mo, Ni, Cu) present in the alloys and is discussed in terms of a phase transition in the films which is controlled by the chromium concentration.
Zusammenfassung
Es werden XPS-Untersuchungen von 5 kommerziellen Stählen, angefangen vom martensitischen rostfreien Stahl mit 12% Chrom bis zum Superferrit mit 29% Chrom, 4% Molybdän und 2% Nickel, präsentiert; zusätzlich wurden Armco-Eisen und reines Chrom (99,99%) untersucht. Die Korrosion bzw. die Bildung der Passivfilme erfolgte in sauerstofffreier, 0,1 M NaCl-Lösung (pH 5,6), aus welcher die Proben in kontrollierter Atmosphäre (Ar) direkt in die XPS-Apparatur eingeschleust wurden. Aus den gemessenen Tiefenprofilen wurden Konzentrationsprofile (at%) der Legierungsbestandteile im oxidierten und metallischen Zustand separat bestimmt. Die Passivfilme haben die folgende Struktur: Eine Verarmung von Cr im inneren, gefolgt von einer Anreicherung in Form eines Maximums im zentralen Bereich der Filme. Mit steigendem Cr-Gehalt nimmt die Höhe dieses Maximums zu und verschiebt sich gegen die Oberfläche. Die äußersten Monolagen enthalten viel Wasser und Hydroxylgruppen. Die Dicke sowie verschiedene andere signifikante Eigenschaften der Filme ändern sich drastisch bei der kritischen Chromkonzentration von ca. 12%. Dieses Verhalten ist praktisch unabhängig von der Gegenwart weiterer Legierungsbestandteile (Mo, Ni, Cu) und wird auf der Basis eines von der Chromkonzentration gesteuerten Phasenübergangs in den Filmen diskutiert.
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Literatur
Asami K, Hashimoto K, Shimodaira S (1976) Corrosion Sci 16:386–391
Asami K, Hashimoto K, Shimodaira S (1978) Corrosion Sci 18:151–160
Atrens A, Meyer H, Faber G, Schneider K (1984) In: Speidel MO, Atrens A (eds) Corrosion in power generating equipment. Plenum, New York, pp 299–330.
Brüesch P, Atrens A, Müller K, Neff H, in Vorbereitung
Cieslak WR, Duquette DJ (1983) In: Froment M (ed) Passivity of metals and semiconductors. Elsevier, Amsterdam, pp 405–411
da Cunha Belo M, Rondot B, Pons F, Le Héricy J, Langeron JP (1977) J Electrochem Soc 124:1317–1324
Elfström B-O (1980) Mater Sci Eng 42:173–180
Fischmeister H, Roll U (1984) persönliche Mitteilung
Fischmeister H, Hofmann S, Roll U (1984) Fresenius Z Anal Chem 319:639–645
Frankenthal RP, Malm DL (1976) J Electrochem Soc 123:186–191
Frankenthal RP, Thompson DE (1978) In: Frankenthal RP, Kruger J (eds) Passivity of metals. Electrochemical Society, Princeton NJ, pp 262–269
Goetz R, Landolt D (1984) Electrochim Acta 29:667–676
Hofmann S (1983) In: Grabke HJ (Hrsg) Oberflächenanalytik in der Metallkunde. Deutsche Gesellschaft für Metallkunde, Oberursel, S 229–243
Hofmann S, Sanz JM (1983) Fresenius Z Anal Chem 314:215–219
Holm R, Storp S (1977) Appl Phys 12:101–112
Kim KS, Baitinger WE, Amy JW, Winograd N (1974) Electron Spectrosc Rel Phen 5:351–367
Lumsden JB, Stachle RW (1976) ASTM Spec Tech Publ 596:39–51
McBee CL, Kruger J (1972) Electrochim Acta 17:1337–1341
Murphy OJ, Bockris JOM, Pou TE, Cocke DL, Sparrow G (1982) J Electrochem Soc 129:2149–2151
Neff H, Foditsch W, Kötz R (1984) J Electron Spectrosc Rel Phen 33:171–174
Okamoto G (1973) Corrosion Sci 13:471–489
Olefjord I (1980) Mater Sci Eng 42:161–171
Olefjord I, Brox B (1983) In: Froment M (ed) Passivity of metals and semiconductors. Elsevier, Amsterdam, pp 561–70
Olefjord I, Elfström B-O (1982) Corrosion (Houston) 38:46–52
Perkin-Elmer Corporation (1979) Handbook of x-ray photoelectron spectroscopy. Eden Prairie, Minnesota, p 74
Pijolat M, Hollinger G (1981) Surface Sci 105:114–128
Pourbaix M (1974) Atlas of Electrochemical Equilibria, NACE, Houston, p 290
Revie RW, Baker BG, Bockris JOM (1975) J Electrochem Soc 122:1460–1466
Shirley DA (1972) Phys Rev B5:4709–4714
Spitzer A (1984) persönliche Mitteilung
Sugimoto K, Matsuda S (1980) Mater Sci Eng 42:181–189
Szklarska-Smialowska Z, Viefhaus H, Janik-Czachor M (1976) Corrosion Sci 16:649–652
Uhlig HH, Carr NE, Schneider PH (1941) Trans Electrochem Soc 79:111–119
Uhlig HH, Mears RB (1948) In: Uhlig HH (ed) Corrosion handbook. Wiley, New York, pp 20–33
Yaniv AE, Lumsden JB, Staehle RW (1977) J Electrochem Soc 124:490–496
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Brüesch, P., Atrens, A., Müller, K. et al. Korrosion von rostfreien Stählen in Chloridlösungen. Eine XPS-Untersuchung der Passivfilme. Z. Anal. Chem. 319, 812–821 (1984). https://doi.org/10.1007/BF01226778
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01226778