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In this work, we report extraction of the density-of-states (DOS) in polymer-based organic thin film transistors through the multi-frequency C-V spectroscopy. Extracted DOS is implemented into a TCAD simulator and obtained a consistent output curves with non-linear characteristics considering the contact resistance effect. We employed a Schottky contact model for the source and drain to fully reproduce a strong nonlinearity with proper physical mechanisms in the output characteristics even under a very small drain biases. For experimental verification of the model and extracted DOS, 2 different OTFTs (P3HT and PQT-12) are employed. By controlling the Schottky contact model parameters in the TCAD simulator, we accurately reproduced the nonlinearity in the output characteristics of OTFT.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. STRUCTURE AND FABRICATION OF OTFTS
III. EXPERIMENTAL RESULTS AND DISCUSSION
IV. SUMMARY
REFERENCES

참고문헌 (4)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2014-569-000245271